膜厚测定装置
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角
产品货号：UTS-2000
产地：日本分光（株）/JASCO
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椭圆率计
日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服・光参考方式，实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量，所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。
产品货号：M-210/220/230/240/550/ELC-300
产地：日本分光（株）/JASCO
价格：询价
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